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MikroMasch
原子力显微镜(AFM)探针
扫描探针显微镜(SPM)探针
Porous Aluminium 多孔铝
HOPG 高定向热解石墨
Test Structure
(Valid from 18 April 2011. Subject to change without notice)
| Description
| Part Number
| Shipping unit
| Price, EUR |
High Resolution
1
| Hi'RES-C Probes, 1 lever
| HI'RES-C/14/AlBS HI'RES-C/15/AlBS
HI'RES-C/16/AlBS HI'RES-C/17/AlBS HI'RES-C/18/AlBS
HI'RES-C/19/AlBS
| 5 chips
| 400
|
15 chips
| 900 |
1'
| Hi'RES-W Probes, 1 lever
| HI'RES-W/14/AlBS HI'RES-W/15/AlBS
HI'RES-W/16/AlBS HI'RES-W/18/AlBS
| 5 chips
| 400
|
15 chips
| 900 |
Conductive Probes
2
| DPER Probes High Resolution in
Electrical Measurements
| DPER14 DPER15 DPER16 DPER17
DPER18
| 15 chips
| 450
|
50 chips
| 1150
|
3
| DPE Probes Low Noise in
Electrical Measurements
| DPE14 DPE15 DPE16 DPE17 DPE18
| 15 chips
| 450
|
50 chips
| 1150
|
4
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/Pt/no Al NSC15/Pt/no Al
NSC16/Pt/no Al CSC17/Pt/no Al NSC18/Pt/no Al NSC19/Pt/no Al
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
5
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Pt/AlBS NSC21/Pt/AlBS
CSC11/Pt/AlBS CSC21/Pt/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
6
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Pt/no Al NSC21/Pt/no Al
CSC11/Pt/no Al CSC21/Pt/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
7
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC35/Pt/AlBS NSC36/Pt/AlBS
CSC37/Pt/AlBS CSC38/Pt/AlBS
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
8
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC35/Pt/no Al NSC36/Pt/no Al
CSC37/Pt/no Al CSC381/Pt/no Al
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
9
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/Cr-Au NSC15/Cr-Au NSC16/Cr-Au
CSC17/Cr-Au NSC18/Cr-Au NSC19/Cr-Au
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900
|
10
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Cr-Au NSC21/Cr-Au CSC11/Cr-Au
CSC21/Cr-Au
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
11
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Cr-Au NSC36/Cr-Au CSC37/Cr-Au
CSC38/Cr-Au
| 15 chips
| 360
|
50 chips
| 900 |
Magnetic Probes
12
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/Co-Cr NSC18/Co-Cr NSC19/Co-Cr
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
13
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Co-Cr NSC36/Co-Cr
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000 |
Standard silicon Probes
14
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/AlBS NSC15/AlBS NSC16/AlBS
CSC17/AlBS NSC18/AlBS NSC19/AlBS
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850
|
15
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/no Al NSC15/no Al NSC16/no Al
CSC17/no Al NSC18/no Al NSC19/no Al
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850
|
16
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/AlBS NSC21/AlBS CSC11/AlBS
CSC21/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
17
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/no Al NSC21/no Al CSC11/no Al
CSC21/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
18
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/AlBS NSC36/AlBS CSC37/AlBS
CSC38/AlBS
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850
|
19
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/no Al NSC36/no Al CSC37/no Al
CSC38/no Al
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 850 |
Silicon probes, Force Constant calibrated Cantilevers
20
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/F/AlBS NSC15/F/AlBS NSC16/F/AlBS CSC17/F/AlBS
NSC18/F/AlBS NSC19/F/AlBS
| 5 chips
| 200 |
Long Scanning
21
| LS Probes, 1 lever
| DP14/LS/AlBS DP15/LS/AlBS DP16/LS/AlBS
DP17/LS/AlBS DP18/LS/AlBS DP19/LS/AlBS
| 15 chips
| 300
|
50 chips
| 900 |
Standard silicon Probes with Si3N4 coating
22
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/Si3N4/AlBS NSC15/Si3N4/AlBS
NSC16/Si3N4/AlBS CSC17/Si3N4/AlBS NSC18/Si3N4/AlBS
NSC19/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
23
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 1
lever
| NSC14/Si3N4/no Al NSC15/Si3N4/no Al
NSC16/Si3N4/no Al CSC17/Si3N4/no Al NSC18/Si3N4/no Al
NSC19/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
24
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Si3N4/AlBS NSC21/Si3N4/AlBS
CSC11/Si3N4/AlBS CSC21/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
25
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 2
levers Triangular
| NSC11/Si3N4/no Al NSC21/Si3N4/no Al
CSC11/Si3N4/no Al CSC21/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
26
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Si3N4/AlBS NSC36/Si3N4/AlBS
CSC37/si3N4/AlBS CSC38/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000
|
27
| NSC/CSC Probes Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/si3N4/no Al NSC36/Si3N4/no Al
CSC37/Si3N4/no Al CSC38/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
50 chips
| 1000 |
Torsional cantilever
28
| TL Probes, 1 lever
| TL01/AlBS TL02/AlBS
| 5 chips 15 chips 50 chips
| 225 600 1700
|
TL01/no Al TL02/no Al
| 5 chips 15 chips 50 chips
| 225 600 1700 |
Tipless cantilever
29
| NSC/CSC Probes Silicon
Tip, 1 lever
| NSC12/tipless/AlBS CSC12/tipless/AlBS
| 15 chips 50 chips
| 300 850
|
NSC12/tipless/no Al CSC12/tipless/no Al
| 15 chips 50 chips
| 300 850
|
NSC12/tipless/Cr-Au CSC12/tipless/Cr-Au
| 15 chips 50 chips
| 360 900 |
Porous Aluminium
30
| Porous Aluminium
| PA01
| 1
| 200 |
HOPG
31
| HOPG mosaic spread 3.5 +/- 0,5
| ZYH + DS/1 mm ZYH + DS/1,75 mm ZYH + DS/2 mm
| 5
| 240 330 360
|
32
| HOPG mosaic spread 1.5 +/- 0,3
| ZYD + SS/1 mm ZYD + SS/1,5 mm ZYD + SS/2 mm ZYD + DS/1
mm ZYD + DS/2 mm
| 3
| 144 180 216 276 420
|
33
| HOPG mosaic spread 0.8 +/- 0,2
| ZYB + SS/1,5 mm ZYB + DS/1 mm ZYB + DS/2 mm
| 1
| 100 120 240
|
34
| HOPG mosaic spread 0.4 +/- 0,1
| ZYA + DS/1 mm ZYA + DS/2 mm
| 1
| 468 700 |
Test Structure
35
| TGZ Vertical Calibration
| TGZ01 TGZ02 TGZ03 TGZ04 TGZ11
| 1
| 100
|
36
| TGZ NIST traceable
| TGZ01C TGZ02C TGZ03C
| 1
| 250
|
37
| TGX Lateral Calibration
| TGX01 TGX11
| 1
| 200
|
38
| TGG Grating with Triangular Steps
| TGG01
| 1
| 200
|
39
| TGF Grating with Trapezoidal Steps
| TGF11
| 1
| 200 |
Test Structure Sets
40
| TGS01 Set of 3 gratings
| TGZ01 TGZ02 TGZ03
| 1
| 200
|
41
| TGS01C Set of 3 gratings NIST traceable
| TGZ01C TGZ02C TGZ03C
| 1
| 650
|
42
| TGS02 Set of 6 gratings
| TGZ01 TGZ02 TGZ03 TGG01 TGX01 PA01
| 1
| 500
|
43
| TS02C Set of 6 gratings, 3 gratings
NIST traceable
| TGZ01 TGZ02 TGZ03 TGG01 TGX01 PA01
| 1
| 950
|
44
| TGS03 Set of 3 gratings
| TGG01 TGX01 PA01
| 1
| 400 |
您可以访问MikroMasch公司网站了解更多: www.spmtips.com
高定向热解石墨(HOPG)
介绍
HOPG是一种新型高纯度碳,为显微分析人员提供了一种可重复使用的平滑表面。与云母不同的是,HOPG完全无极性适用于元素分析,并且分析信号中仅有碳原子背景信号。HOPG优良的表面光滑性使其可以作为空白背景,除非分辨率达到原子级水平。在HOPG发现之初,其被称为“初生石墨”。请不要将SPI Supplies的HOPG和玻璃态碳相混淆。
特性:
薄层状结构
Gr普通石墨和特殊HOPG均系薄层状结构,就像云母、二硫化钼及其他分层物质一样,由平的堆积层组成。所有这些薄层状的物质,其平面比层与层之间承受更大的力量,这也说明了这样的物质容易劈开的特征。
开裂特性- HOPG具有层状结构,会像云母一样开裂。通常的方法是先用一条胶带(如3M “Scotch Brand”双面胶)粘在HOPG的表面上,然后将其撕下,胶带上就会粘有一层薄薄的HOPG。新裂表层可以用作样本基底材料。那么每个样本上会有多少裂片呢?这很难讲清楚。对于好的HOPG(如SPI-1或ZYA),每2mm厚的区域中大概含有20到40个裂片。我们无法保证裂片的确切数量,但如果您愿意与我们分享您宝贵的工作经验,我们会席耳恭听的。HOPG的等级越低,每2mm厚的区域中裂片数量就越少,但具体有多少我们也无法准确预测出。
基面图像-用原子级分辨率的扫描隧道显微镜拍摄HOPG的结构图像,会得到两种图像。通常观测到的是一个紧密排列矩阵的图像;在此矩阵中,每个原子被六个相邻原子包围,任意两个原子间距为0.246nm。在理想条件下,特别是探针头真正为单原子时,您将看到石墨的六边形“铁丝网”结构;其中,原子的中心间距为0.1415nm。这个距离是碳原子的基本属性,与石墨等级无关。多数情况下对HOPG的基面进行观察时,图像就是此种紧密排列的矩阵。
用作石墨单色器:据报告,SPI Supplies提供的HOPG(尤其是SPI-1和ZYA级的)比任何其它物质都能更有效地进行X射线和中子的衍射。例如对X射线来说,使用HOPG其强度是使用氟化锂晶体的5倍。使用好的HOPG的单偏转聚焦单色器,产生的马赛克扩散小,其亮度是同分辨率氟化锂单色器的3倍。
平整度/粗糙度- HOPG具有多晶结构,其尺寸大小不一。好的HOPG,其晶体可达10mm。新裂表层由多大几个至十几个的0.2-0.3nm的原子梯级组成。HOPG质量越好,表面粗糙度越小,新裂表层原子梯级数越少。
马赛克扩散- 此项指标用于衡量HOPG的定向度。马赛克扩散越小,HOPG定向度越高,从而裂片表面呈现的梯级越少。马赛克扩散越低,HOPG价格越高,但其可分裂性越好,产生的裂片相应越多,这在某种程度上提高了材料的性价比。
柱状结构:
柱状结构在材料平板内部呈垂直分布,在侧表面可以看到颗粒边界。换言之,马赛克扩散沿颗粒边界偏离柱状结构正交轴的角度进行。
高温中使用
越来越多的科研领域需要使用HOPG,越来越多的场合需要良好的耐高温特性。以下信息可能会对您有所帮助:
- 空气中: > 500°C/932°F (开始燃烧)
- 0.1托真空中: > 2500°C/4532°F
- 惰性环境中(N, Ar, He) > 3500°C/6332°F
z轴校准:
对HOPG裂片表面凹凸部分的高度没有进行过校准。然而,晶体表面具有固定的结构,单阶高度为0.34nm。由于进行了分裂处理,您会很容易地发现梯级结构。另一种方法是置于烘箱中,通过氧化作用在表面产生蚀刻坑。
高纯度- 两种品牌所有等级的HOPG都具有较高的纯度,杂质含量在10ppm级或更低。
化学稳定性:
HOPG对包括四氧化锇在内的所有化学物质都具有较高的化学稳定性。然而,当其置于SPI Supplies Plasma Prep II等离子蚀刻机产生的氧等离子体中时,HOPG会迅速消失。
导热性:
由于HOPG各向异性的特点,不同方向上其导热性也不同。热导率沿基面方向为1800Wt/C,沿垂直基面方向为8-10Wt/C。任何类型的HOPG,其热导率都比较高。导热鳞片与其它HOPG有相同
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