MURATest亮度均匀性测试仪

ELDIM MURATest亮度均匀性测试仪

MURATest系统是用于对表面发光产品的色度均匀性的快速精确的检测。对显示模组、显示墙及成批显示设备的色度均匀性的精确的指标量化，此设备是理想的选择，在视频比色领域MURATest系统是一个突破。它的创新设计，使用了5个色度滤波器和高品质的光学器件，同样，它的制造过程包括多样化的设计和校准步骤，保证了它的检测性能。

传感器头
塞贝尔式冷却照相机在极限环境下（象非常低的亮度电平）可传送高灵敏性的光信号，它可适应各种各样的传感器的灵敏度，包括巨大的16M像素。

技术特点如下：
低噪声、高动态范围
蓝增强柯达CCD
冷却式CCD把温度完全稳定在-20℃。
16位A/D转换器
暗电流补偿
自动或手动灵敏操纵模式
USB2.0插头及播放

色度过滤
I.转轮式色度计典型特征是三个滤波器产生很低的色度精确度，三滤波式色度计只针对周围的有用的色度参数（象校准标准）是精确的，它们的精度无疑落下了色度空间中的其它颜色，ELDIM公司的设计是通过提供一套可选择的方案，在任何色度刺激下测量色度精度在0.005RMS（ x,y值）以内。

II.设计功能
CCD传感器光谱响应的表示法
使用5级滤波器
每级滤波器特别的设计可以完美地拟合CIE参数曲线
圆形CCD光学设计避免了失真
高级别的光学系统提供了精确的光传导

III.校准
NIST（国家标准与技术协会）推荐：从4到7色的矩阵法
参考色分散明显的色空间
连接国际标准

光学特性

所有的光学器件的制造均通过ELDIM实验室，独特的塞贝尔CCD的设计及高品质的控制过程使其具有高MFT和低失真特性。
光学失真低于CCD像素点
无虚影
失真﹤0.1%
MTF﹥50lpm
前置光圈虚影电子眼测量
当改变工作距离时无额外校准

应用

由于配备附加的专业光学系统，专业执行滤波器和近产生的满足许多工业标准的科技传感器，因此ELDIM的MURATest系统适用于许多不同的高级别要求的光学领域，此系统还配备安装了专业的应用软件。可应用与以下领域：
LCD模组的均匀性的缺陷
PDP图像拖影
CCFL照明和背光模组
仪表盘和驾驶仓环境
发射系统均匀化

软件

软件可支持双方照相采样和数据分析的无线控制，所有的照相参数的设置是通过一个对话框进行设置、参数保存然后应用的。软件界面友好易懂，包括方便的分析工具，例如典型的是：缩放，区域选择，数据报告输出。软件自带的ActiveX功能库包括更多的自动分析和检测功能，因此用户可以用LabVIEW，Excel，Visual Basic.建立自己的控制程序。

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