EZContrast光学视角检测仪

ELDIM EZContrast光学视角检测仪

EZContrast 多谱段视角分析仪的主要型号：
EZLite
EZContrast L80
EZContrast L80W
EZContrast XL88
EZContrast XL88W
ESContrast MS88
EZContrast MS80
EZContrast XL88MS

下载光学视角检测仪产品手册

此系统是针对视场角的光电特性的检测，通过傅立叶光学综合系统和CCD技术对被测物体进行快速测量（至少需要一分钟）。由光学系统、光学滤波器、带冷却系统的高科技传感器组成高品质的测量系统，保证了精准的测量，对反射测量和分析提供一套完整的解决方案。配备友好的开放界面软件，可实现精准的遥控及分析测量。

EZContrast系列产品描述

A.由于EZContrast系列的快速发展，使得在平板显示设备的检测及分析领域中具有明显的竞争优势，在用户中知名度非常高，并且得到首肯，尤其是在光度测量领域、色度测量领域和光学领域的研究具有权威性。

B.对显示设备的典型特性的测量视场角度达到88度。

C.可适应的测量环境
   i.照明环境（标准和漫射）
   ii.宽范围的温度环境
   iii.调整信号（均匀性测量）的显示标准可兼容VESA（FPDM），ISO13406，TCO99标准
   iv. 对于LCD，FED，FILM，OLED，涂料，微型显示器等，其理想的反射和放射的采样响应是由角度决定的，因此测量的视场角的大小对测量精度有很大的影响。

D.EZContrast系列软件EZCom描述
   i.测量量程自动切换
   ii.自动灵敏度调整
   iii.优化的动态检测范围
   iv.具有暗电流自动补偿功能
   v.具有对比计算分析功能
   vi.具有方位角，入射，对数截面分析
   vii.具有ISO标准曲线
   viii.具有ISO亮度或ISO对比度
   ix. 具有反色表示法
   x.可兼容WINDOWS操作系统，通过“activeX interface”控件在软件中可实现遥控控制。
   xi.用“activeX technology”，通过labview, matlab, VBA, VBScript, javascript, C, C++等软件可建立用户自己的软件控制序列。

E.EZContrast系列产品的选择
四种检测传感器可有效满足用户需求
   a)EZLite micro：此类检测传感器针对微型显示屏的性能检测。大入射角度：±30度，工作距离：50mm
   b)EZLite：此类检测传感器针对小型显示屏的性能检测。大入射角度：±60度，工作距离：4.5mm
   c)EZContrast LI80：此类检测传感器针对LCD显示器的性能检测。大入射角度：±80度，工作距离：1.2mm
   d)EZContrast XL88：此类检测传感器针对LCD电视的性能检测。大入射角度：±88度，工作距离：1mm
以上这些高层次的科技专用CCD提供了高动态范围，低噪声和长曝光时间，这些选择和多种曝光响应特点可达到动态检测范围。无论光如何照射，这些特点均能保证我们的光传感器成为理想的BRDF检测工具。

F.EZContrast系列产品的应用
   I. 组成一个高精度的空间彩色分析仪
   定制的色彩滤波器，针对每个CCD的响应曲线均按照CIE曲线进行拟合。对于任何的空间色彩的感应，其精度满足0.005（X，Y）。
   II.特殊检测的专用工具
   a)闪烁度、响应时间及延时的检测
   b)倾斜角的分析
   c)偏振现象或延迟分析
   d)HV坐标
   e)VT曲线和灰阶电平的分析

G.独有的光学傅立叶转换通道系统

高性能傅里叶光学视角检测仪
ELDIM公司根据傅里叶光学原理制造视角分析仪有超过十年的历史，所制造的系统在全视角和大光斑方面的能力逐年递增，多谱段系列产品使用先进的光学设计原理，视角范围高达88度。

高效率
该系统关键特征之一是采用了一种的技术：可独立控制系统的孔径张角和光斑大小。 收集效率高，视角范围达88度并同时具有极高的精确度，同传统的标准傅里叶光学分析相比，这种无疑是一种关键的优势与进步。

高速分析
这种全视图圆锥图是通过极高的方位角分辨率来测量，只需几秒即可测定亮度，测定辐射率也只需要几分钟。薄面和组分的全息图在几分钟内即可形成，而传统的方法是使用测角计，往往需要几天的时间。

高精度
所有的ELDIM系统都遵循严格的加工过程、质量控制，并经过校正程序。每个CCD镜头的都具有较高的光谱灵敏度，通过分光光度方法控制每个滤波器的设计与光谱灵敏度。为了使系统达到高视角，我们研制了专门的工具和程序。

高可靠性
ELDIM独立加工系统的每个关键组成部件。之所以具有较高的性能，主要是由于采用了先进的技术：磁流体抛光技术和拼接干涉方法等。为了降低直射光、衍生光的偏振，我们在表面涂覆不反光涂层，并在系统内部实现光学校直。光学校直和膜层涂覆在无尘室内进行。所有系统在运输前几天会进行集中测试以确保质量。

辐射率、辉度、颜色和偏振
EZContrastMS不仅仅可以测量光谱对的波长还可以测量光的偏振状态。偏振状态在LCDs的对照、薄层与组分的特征、基于立体展示的偏振光的3D性能等许多情况下非常实用。

光测量的精密性
在EZContrastMS内部，不同的自动轮可以选择线偏振光束，使用31条规律分布于可见光区的通带过滤器。系统会自动对每一个波长的过滤器生成一个全傅里叶平面图形，并顺序对其他的过滤器进行重复生成图形。在每一个影响角度范围内系统会在一个绝对条件下校准直至重新构建目标物的光谱强度。所测量的光斑大小可自动调节。系统会对每一个具有中心密度的明亮光源产生响应值。偏光器和波长-平板可以对光线进行全偏振分析。

基本LCD光发射研究
显示器射线的多谱段测量时非常强大的性能分析工具，所有的LCD显示器关键部件都强烈的依赖于光的各种波长（偏振器效率、均匀薄面的透射比、液晶显示器自身的偏振调制）。全角度和辐射率分析可以很好的解释LCD屏优异的表现性能。

辐射对照
除了亮度对比度之外，辐射对比度也可以在每一个角度和波长更精确的对显示器的性能进行评估。

颜色发射
从R、G和B状态的多谱段测量，我们可以分别的计算出R、G和B状态在任何角度和波长下的辐射对比度。颜色的表现能力也可以更好的理解和提高。

傅里叶光学特性原理

收集效率
傅里叶光学系统就相当于一个简单的透镜（或者是一个透镜组合），可以收集由微小表面所发出的光，并将这些光重新聚焦在一个平面-傅里叶平面-上，焦点所在的位置取决于这些光的方位角和范围，通过傅里叶光学函数进行表面分析。

简单透镜
对于一个简单的透镜，随着入射角函数的变化，效率也会变化。因此当入射角大于40度时，效能会变的很小。所以容易理解，在大于40度的情况下，当采用单个透镜作为傅里叶光学系统对亮度和颜色进行测量时毫无用处的。

傅里叶光学系统
传统的傅里叶光学系统是有许多曲率半径不断增大的透镜组合而成的，它们可以收集由物体表面所发出的光，并将不同入射角时的光沿着系统的光路中轴进行光路改变。通常情况下，3-5个透镜可以达到此目的。对于较大的棱角孔径，个透镜一般是一个近乎完整的半球体。这个棱角在傅里叶平面上变成一个线状，相比于前面所讲的效率，系统对于角度的范围变化所引起的敏感度降低，尽管如此，当切边入射时的数据往往降低到0，这种光线设计仍旧在入射角高于60-70度时无作用。所以若要获得更广泛的使用范围，傅里叶光谱需要同其他光谱相组合，才能达到理想效果。

傅里叶光谱与余弦函数补偿
ELDIM已经采用了此种技术。傅里叶光谱平面被设想放置于有检测器的物镜上面，同时设想有另一面物镜。平面的中间放置虹膜，并复合在展示物的表面。这种光学设计的个特性是这个虹膜可以独立于仪器的孔径张角并精确的解释测量表面处测量点的尺寸大小。所以，我们可以获得光点直径达到6毫米、孔径张角达到88度的测量点数据。它的第二个特性是光点的尺寸随着入射角的增大而增大，这同传统的测角仪系统是一致的。 小光点尺寸在垂直入射的情况下获得，随着余弦角的增加而增加，相比于原来的构造，现在仪器的效率已经有了极大幅度的提高，这种光学系统可以在高达88度的角度下工作，并在此角度保持高于65%的效率。

偏振现象原理分析
光波具有多种不同状态的偏振现象。尤其是光在自然状态下，偏振现象更普遍。偏振现象也可以线性的进行分类，这中情况下电场经常会在一个水平上左右摆动。在任何情况下，电场强度可以将光波分离成两个部分：E1 = Epolarized + Eunpolarized
偏振情况可以由椭圆系数定义，非偏振光成分可以由偏振度数定义。上述三个参数，可以由斯托克斯向量连接在一起。

EZContrastMS系统可以提供三个不同角度（0,45,90）时的偏振选择，另外还可以提供在不同角度（45和135度）时的波形平板。系统可以自动的提供7中测量模式，其中的参数包括斯托克斯向量、偏振图像和偏振特性计算。

液晶显示器的性能
LCD发射的光的偏振分析对微小液晶显示单元的发光效率有很重要的参考价值。例如，在关闭状态下的非偏振光的检测直接同显示器的黑白水平的质量有着直接的联系，另外还可以对比到辐射率和亮度。一个测量液晶显示单元性能的方发是移除LCD顶部的偏光器，测量由单元所发射的每个水平的光波偏振状态。液晶显示单元在关闭状态下轮换着作为波形-平板，而在打开状态下则是圆形状态。在每个灰度和波长下，斯托克斯向量都可以被计算出来。

组件描述
偏振器的偏振效应必须要经过分析并且对LCD的性能有参考价值。另外，许多膜层和组件会对光的偏振状态产生影响，并终影响显示器的性能。采用ELDIM基准白色的EZContrastMS是这种测量快速而又简便。就像第9页述及的BEF膜层分析的例子一样，不同组件在不同时期对光的偏振作用有重要影响。我们采用两相同的BEF膜层进行过光谱偏振测量。在633纳米处的偏振角度和椭圆率也在上述提及。同透射比相比，两块膜层的区别非常明显，当进行糙面精整时光学是近似直线的，而没有糙面精整时是接近圆形的。

立体3D展示
EZContrastMS基于偏振立体三维显示的特点，可直接通过测量其发光与偏振态角度和波长使用。可视角度多光谱偏振测量图如左视图。我们可以看到一个垂直的椭圆和调制偏振角度。这是由于垂直调制效应的角度对膜层的影响，不考虑液晶显示晶胞。事实上，膜层位于显示屏顶部表面。顶端的玻璃厚度可以调节，偏振状态可以由垂直状态到圆形状态的转变。因此，只要有一个人在前面空间观察到显示的一部分，便可正确显示三维立体知觉。此外，这三个组成部分表现出强烈的两极分化的变化与波长。特别是椭圆从未达到其值（圆角度±45度）。偏振状态几乎是在为530nm为圆形，但在蓝色和红色区域迅速下降。这两个特点是双眼观看三维空间时，液晶显示器的一个缺陷的主要来源。