MikroMasch探针

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石墨烯纳米材料
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MikroMasch
原子力显微镜(AFM)探针
扫描探针显微镜(SPM)探针
Porous Aluminium 多孔铝
HOPG 高定向热解石墨
Test Structure

 

(Valid from 18 April 2011. Subject to change without notice)

 
Description
Part Number
Shipping unit
Price, EUR
High Resolution
1 Hi'RES-C Probes,
1 lever
HI'RES-C/14/AlBS
HI'RES-C/15/AlBS
HI'RES-C/16/AlBS
HI'RES-C/17/AlBS
HI'RES-C/18/AlBS
HI'RES-C/19/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
1' Hi'RES-W Probes,
1 lever
HI'RES-W/14/AlBS
HI'RES-W/15/AlBS
HI'RES-W/16/AlBS
HI'RES-W/18/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
Conductive Probes
2 DPER Probes
High Resolution
in Electrical
Measurements
DPER14
DPER15
DPER16
DPER17
DPER18
15 chips 450
50 chips 1150
3 DPE Probes
Low Noise
in Electrical
Measurements
DPE14
DPE15
DPE16
DPE17
DPE18
15 chips 450
50 chips 1150
4 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Pt/no Al
NSC15/Pt/no Al
NSC16/Pt/no Al
CSC17/Pt/no Al
NSC18/Pt/no Al
NSC19/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
5 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/AlBS
NSC21/Pt/AlBS
CSC11/Pt/AlBS
CSC21/Pt/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
6 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/no Al
NSC21/Pt/no Al
CSC11/Pt/no Al
CSC21/Pt/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
7 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/AlBS
NSC36/Pt/AlBS
CSC37/Pt/AlBS
CSC38/Pt/AlBS
15 chips 360
50 chips 900
8 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/no Al
NSC36/Pt/no Al
CSC37/Pt/no Al
CSC381/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
9 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Cr-Au
NSC15/Cr-Au
NSC16/Cr-Au
CSC17/Cr-Au
NSC18/Cr-Au
NSC19/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
10 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Cr-Au
NSC21/Cr-Au
CSC11/Cr-Au
CSC21/Cr-Au
15 chips 390
50 chips 1000
11 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Cr-Au
NSC36/Cr-Au
CSC37/Cr-Au
CSC38/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
Magnetic Probes
12 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Co-Cr
NSC18/Co-Cr
NSC19/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
13 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Co-Cr
NSC36/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
Standard silicon Probes
14 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/AlBS
NSC15/AlBS
NSC16/AlBS
CSC17/AlBS
NSC18/AlBS
NSC19/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
15 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/no Al
NSC15/no Al
NSC16/no Al
CSC17/no Al
NSC18/no Al
NSC19/no Al
15 chips 300
50 chips 850
16 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/AlBS
NSC21/AlBS
CSC11/AlBS
CSC21/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
17 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/no Al
NSC21/no Al
CSC11/no Al
CSC21/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
18 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/AlBS
NSC36/AlBS
CSC37/AlBS
CSC38/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
19 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/no Al
NSC36/no Al
CSC37/no Al
CSC38/no Al
15 chips 300
50 chips 850
Silicon probes, Force Constant calibrated Cantilevers
20 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/F/AlBS
NSC15/F/AlBS
NSC16/F/AlBS
CSC17/F/AlBS
NSC18/F/AlBS
NSC19/F/AlBS
5 chips 200
Long Scanning
21 LS Probes,
1 lever
DP14/LS/AlBS
DP15/LS/AlBS
DP16/LS/AlBS
DP17/LS/AlBS
DP18/LS/AlBS
DP19/LS/AlBS
15 chips 300
50 chips 900
Standard silicon Probes with Si3N4 coating
22 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/AlBS
NSC15/Si3N4/AlBS
NSC16/Si3N4/AlBS
CSC17/Si3N4/AlBS
NSC18/Si3N4/AlBS
NSC19/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
23 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/no Al
NSC15/Si3N4/no Al
NSC16/Si3N4/no Al
CSC17/Si3N4/no Al
NSC18/Si3N4/no Al
NSC19/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
24 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/AlBS
NSC21/Si3N4/AlBS
CSC11/Si3N4/AlBS
CSC21/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
25 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/no Al
NSC21/Si3N4/no Al
CSC11/Si3N4/no Al
CSC21/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
26 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Si3N4/AlBS
NSC36/Si3N4/AlBS
CSC37/si3N4/AlBS
CSC38/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
27 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/si3N4/no Al
NSC36/Si3N4/no Al
CSC37/Si3N4/no Al
CSC38/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
Torsional cantilever
28 TL Probes,
1 lever
TL01/AlBS
TL02/AlBS
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
TL01/no Al
TL02/no Al
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
Tipless cantilever
29 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC12/tipless/AlBS
CSC12/tipless/AlBS
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/no Al
CSC12/tipless/no Al
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/Cr-Au
CSC12/tipless/Cr-Au
15 chips
50 chips
360
900


 

Porous Aluminium
30 Porous Aluminium PA01 1 200

HOPG
31 HOPG
mosaic spread
3.5 +/- 0,5
ZYH + DS/1 mm
ZYH + DS/1,75 mm
ZYH + DS/2 mm
5 240
330
360
32 HOPG
mosaic spread
1.5 +/- 0,3
ZYD + SS/1 mm
ZYD + SS/1,5 mm
ZYD + SS/2 mm
ZYD + DS/1 mm
ZYD + DS/2 mm
3 144
180
216
276
420
33 HOPG
mosaic spread
0.8 +/- 0,2
ZYB + SS/1,5 mm
ZYB + DS/1 mm
ZYB + DS/2 mm
1 100
120
240
34 HOPG
mosaic spread
0.4 +/- 0,1
ZYA + DS/1 mm
ZYA + DS/2 mm
1 468
700
Test Structure
35 TGZ
Vertical Calibration
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGZ04
TGZ11
1 100
36 TGZ
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 250
37  TGX
Lateral Calibration
TGX01
TGX11
1 200
38  TGG
Grating with
Triangular Steps
TGG01 1 200
39  TGF
Grating with
Trapezoidal Steps
TGF11 1 200
Test Structure Sets
40 TGS01
Set of 3 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
1 200
41 TGS01C
Set of 3 gratings
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 650
42 TGS02
Set of 6 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 500
43 TS02C
Set of 6 gratings,
3 gratings
NIST traceable
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 950
44 TGS03
Set of 3 gratings
TGG01
TGX01
PA01
1 400

您可以访问MikroMasch公司网站了解更多: www.spmtips.com

 

 

高定向热解石墨(HOPG)

介绍
HOPG是一种新型高纯度碳,为显微分析人员提供了一种可重复使用的平滑表面。与云母不同的是,HOPG完全无极性适用于元素分析,并且分析信号中仅有碳原子背景信号。HOPG优良的表面光滑性使其可以作为空白背景,除非分辨率达到原子级水平。在HOPG发现之初,其被称为“初生石墨”。请不要将SPI Supplies的HOPG和玻璃态碳相混淆。

特性:

薄层状结构
Gr普通石墨和特殊HOPG均系薄层状结构,就像云母、二硫化钼及其他分层物质一样,由平的堆积层组成。所有这些薄层状的物质,其平面比层与层之间承受更大的力量,这也说明了这样的物质容易劈开的特征。

开裂特性- HOPG具有层状结构,会像云母一样开裂。通常的方法是先用一条胶带(如3M “Scotch Brand”双面胶)粘在HOPG的表面上,然后将其撕下,胶带上就会粘有一层薄薄的HOPG。新裂表层可以用作样本基底材料。那么每个样本上会有多少裂片呢?这很难讲清楚。对于最好的HOPG(如SPI-1或ZYA),每2mm厚的区域中大概含有20到40个裂片。我们无法保证裂片的确切数量,但如果您愿意与我们分享您宝贵的工作经验,我们会席耳恭听的。HOPG的等级越低,每2mm厚的区域中裂片数量就越少,但具体有多少我们也无法准确预测出。

基面图像-用原子级分辨率的扫描隧道显微镜拍摄HOPG的结构图像,会得到两种图像。通常观测到的是一个紧密排列矩阵的图像;在此矩阵中,每个原子被六个相邻原子包围,任意两个原子间距为0.246nm。在理想条件下,特别是探针头真正为单原子时,您将看到石墨的六边形“铁丝网”结构;其中,原子的中心间距为0.1415nm。这个距离是碳原子的基本属性,与石墨等级无关。多数情况下对HOPG的基面进行观察时,图像就是此种紧密排列的矩阵。

用作石墨单色器:据报告,SPI Supplies提供的HOPG(尤其是SPI-1和ZYA级的)比任何其它物质都能更有效地进行X射线和中子的衍射。例如对X射线来说,使用HOPG其强度是使用氟化锂晶体的5倍。使用最好的HOPG的单偏转聚焦单色器,产生的马赛克扩散最小,其亮度是同分辨率氟化锂单色器的3倍。

平整度/粗糙度- HOPG具有多晶结构,其尺寸大小不一。最好的HOPG,其晶体可达10mm。新裂表层由多大几个至十几个的0.2-0.3nm的原子梯级组成。HOPG质量越好,表面粗糙度越小,新裂表层原子梯级数越少。

马赛克扩散- 此项指标用于衡量HOPG的定向度。马赛克扩散越小,HOPG定向度越高,从而裂片表面呈现的梯级越少。马赛克扩散越低,HOPG价格越高,但其可分裂性越好,产生的裂片相应越多,这在某种程度上提高了材料的性价比。

柱状结构:
柱状结构在材料平板内部呈垂直分布,在侧表面可以看到颗粒边界。换言之,马赛克扩散沿颗粒边界偏离柱状结构正交轴的角度进行。

高温中使用
越来越多的科研领域需要使用HOPG,越来越多的场合需要良好的耐高温特性。以下信息可能会对您有所帮助:

  • 空气中: > 500°C/932°F (开始燃烧)
  • 0.1托真空中: > 2500°C/4532°F
  • 惰性环境中(N, Ar, He) > 3500°C/6332°F

z轴校准:
对HOPG裂片表面凹凸部分的高度没有进行过校准。然而,晶体表面具有固定的结构,单阶高度为0.34nm。由于进行了分裂处理,您会很容易地发现梯级结构。另一种方法是置于烘箱中,通过氧化作用在表面产生蚀刻坑。

高纯度- 两种品牌所有等级的HOPG都具有较高的纯度,杂质含量在10ppm级或更低。

化学稳定性:
HOPG对包括四氧化锇在内的所有化学物质都具有较高的化学稳定性。然而,当其置于SPI Supplies Plasma Prep II等离子蚀刻机产生的氧等离子体中时,HOPG会迅速消失。

导热性:
由于HOPG各向异性的特点,不同方向上其导热性也不同。热导率沿基面方向为1800Wt/C,沿垂直基面方向为8-10Wt/C。任何类型的HOPG,其热导率都比较高。导热鳞片与其它HOPG有相同

 


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